Chromaが最新の各種半導体テストソリューションを発表

AsiaNet 68206

【桃園（台湾）2017年4月24日PR Newswire】高精度の電子計測器、自動検査システム、インテリジェント製造システム、ターンキーテスト及び自動化ソリューションを世界に提供するリーディングカンパニーであるChromaは、このたび、IoT/IC市場向けの最新の半導体テストソリューションをリリースしました。

Chroma 3680は、データ転送速度が最高1Gbpsの最先端SoCテストシステムです。本テストシステムはデジタルおよびアナログICテストの要求に対応し、複数のチップを並行してテストすることができます。対応アプリケーションはMCU、デジタルオーディオ、デジタルTV、セットトップボックス、DSP、ネットワークプロセッサー、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（FPGA）、家電など多岐にわたります。

今年新たに開発されたChroma 33010 PXIe デジタルI/Oカードは、増大するPXIテストニーズに充足するために、PXIeアーキテクチャーに基づく自動テスト化ソリューションを提供します。増加の一途をたどる複雑なテスト項目に対応し、小型のICチャンネル及びIoT、車載電装品のICを保護するために、このPXI/PXIeアーキテクチャーはMCU、MEMS、RF IC、PMICを含めた半導体テストにおいて、多様かつ柔軟性のあるテストを実現します。また、量産向けのChroma 3380D（256チャンネル対応）とChroma 3380P（512チャンネル対応）にハードウェア、ソフトウェア共に類似した構成になっているため、テスト項目の移植が容易に行えます。

Chroma 3260 3温度 SLT ハンドラは、業界をリードするNitro TECテクノロジーによるダイナミック温度制御機能を備えています。Nitro TECテクノロジーは、±1℃の精度で-40℃から125℃までの優れた温度コントロールをサポートします。本システムは、複数のモジュールボードを並行試験するのに適しており、搭載されている検査用ソケットは、様々なタイプのパッケージ（QFP、TQFP、MuBGA、PGA、CSP）に対応することができます。様々なタイプのパッケージへの対応はチェンジキットの交換によって迅速に行うことができ、テストのダウンタイムを大きく減らし、作業効率を大幅に改善します。IoV（自動車に特化したIoT）やクラウドコンピューティング業界向けのIC部品のアプリケーションに対応しています。

Chroma 3111 テーブルトップシングルサイトハンドラは、特にエンジニアリングの研究開発段階におけるシステム機能テスト向けに設計されています。端子台によるテストが可能で、5mm×5mmから45mm×45mmまでの各種ウエーハサイズに対応しています。本システムはコンパクトさによって（60cm2）、エンジニアリングテストの時間とコストを最小限に抑えるための有用な選択肢の一つとなるでしょう。

MP5800 RF ATEテスターは、6GHzのテストレンジをカバーし、120MHzの帯域幅で4/8 RF ポートに対応します。アプリケーションは、Wi-Fi、BT、GPS、その他IoT接続ICおよびRFコンポーネント（PA、LNA、コンバーターなど）を含みすべてのRF/デジタルATE（CP/FT/SLT）テストのニーズを満たします。

Chroma半導体テストソリューションは、今回紹介した製品だけではなく、様々なテストアプリケーションに対応した各種ソフトウエア、システムをを提供しています。

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▽製品の問い合わせ先

＜日本窓口＞

クロマジャパン(株)　045-542-1118

info@chroma.co.jp

www.chroma.co.jp

（日本語リリース：クライアント提供）

Chroma Releases the Newest Semiconductor Test Solution

PR68206

TAOYUAN, Taiwan, April 24, 2017 /PRNewswire=KYODO JBN/

Chroma ATE Inc., a world leading supplier of precision Test and Measurement

Instrumentation, Automated Test Systems, Intelligent Manufacturing Systems,

Turnkey Test and Automation Solutions has recently released the newest

semiconductor test solution for the IoT IC market.

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The Chroma 3680 is an advanced SoC test system with data rate up to 1Gbps. The

Chroma 3680 is capable of conducting parallel tests on multiple chips to meet

the digital and analog IC testing requirements, with applications including

MCU, digital audio, digital TV, set-top box, DSP, network processor, field

programmable gate array (FPGA) and consumer electronics.

Newly developed this year, the Chroma 33010 PXIe Digital IO Card provides

automatic test functions based on PXIe architecture to excel in the heavy

demands of PXI testing. To satisfy smaller IC channels and increasingly complex

test functions especially on IoT and automotive electronics IC, the PXI/PXIe

architecture in semiconductor testing offers unparalleled advantage in

diversity and flexibility, which includes MCU, MEMS, RF IC and PMIC testing. It

can also be ported to Chroma 3380D (256 channels) and Chroma 3380P (512

channels) for mass-production as they have high similarity in both software and

hardware.

The Chroma 3260 Tri-Temperature SLT Handler is equipped DTC (Dynamic

Temperature Control) function by leading Nitro TEC technology, which can

support more excellent temperature performance range from -40°C to 125°C with

+/- 1°C accuracy. It is suitable for parallel tests on multiple module boards,

and the test sockets embedded can accommodate various types of package (QFP,

TQFP, MuBGA, PGA and CSP). The Chroma 3260 (Tri-Temp.) can change kit quickly

as changing different DUT (Device Under Test) to significantly reduce the

downtime and improve efficiency. Applications include the IC components for IoV

(Internet of Vehicle) and the cloud-computing industry.

The Chroma 3111 Table Top Single Site Handler is designed for system function

testing especially during engineering experimental phase. It has electrical

terminal test capability to support various packaged wafers sizes, ranging from

5x5mm to 45x45mm. The Chroma 3111 will be the best choice to effectively

minimize time and cost during engineering test due to its tiny size (60cm2

space) feature.

The Chroma semiconductor test equipment integrated with the MP5800 RF ATE

tester can cover 6GHz test range and provide 4/8 RF port with 120MHz bandwidth.

Its applications include WiFi, BT, GPS, other IoT connectivity ICs and RF

components (PA / LNA / Converter, etc.) to satisfy the requirements of a total

RF/Digital ATE (CP/FT/SLT) test solution.

Chroma's semiconductor test solution also provides a variety of software suites

for different testing applications.

Product Contacts:

CHROMA ATE INC. (HEADQUARTERS), Tel: +886-3-3279999

CHROMA ATE, INC. (U.S.A.), Tel: +1-949-421-0355; Toll Free +1-800-478-2026

CHROMA ATE EUROPE B.V., Tel: +31-318-648282

CHROMA ATE GERMANY, Tel: +49-821-790967-0

CHROMA JAPAN CORP, Tel: +81-45-542-1118

CHROMA ELECTRONICS (SHENZHEN) CO., LTD., Tel: +86-755-2664-4598

QUANTEL PTE LTD., Tel: +65-6745-3200

info@chromaate.com

www.chromaate.com

SOURCE Chroma ATE Inc.