◎ローデ・シュワルツが使い勝手を向上し、ツールを強化したRTEオシロスコープを発売

AsiaNet 55983

共同JBN 0233 （2014.2.27）

【ミュンヘン（ドイツ）2014年2月26日PRN=共同JBN】R&S RTEデジタル・オシロスコープは組み込みデザイン開発、パワーエレクトロニクス分析、全般的なデバッギングなど通常の試験・計測作業に役立つ高速かつ信頼性の高いソリューションを提供している。ユーザーは高いサンプリングレート、取得率、信号忠実度などの利便を受ける。R&S RTEは測定・解析ツールの多くを含むセットになっているため即座に結果を見ることができ、高解像度タッチスクリーンの使用で使い勝手も非常によくなっている。

ローデ・シュワルツ（Rohde & Schwarz）の新型R&S RTEは200MHzから1GHzの帯域幅で利用可能である。100万波形／秒以上の取得率をもつためユーザーは迅速に信号障害を見つけることができる。このスコープはトリガージッターが事実上ゼロの非常に正確なデジタル・トリガーシステムであり、非常に正確な結果を出すことができる。7以上の有効ビット（ENOB）のシングルコアA/Dコンバーターはほぼ完全に符号ひずみを除去する。R&S RTEは5 Gsample/sのサンプリングレートおよび50 Msample/channelの最大メモリーデプスを持ち、I2CやCANなどのシリアル機器のデータ内容を分析する時に必要とされるロング・シグナルシーケンスも正確に記録することができる。

複雑な作業を行うユーザーにとってはR&S RTEのもたらす高速測定が特に有用になるだろう。例えばマスクテストにおいては統計的に確実な結果が迅速に返ってくる。高度な応答性能をもち、スペクトラム・アナライザーのような働きをするFFTが散発的な信号でさえ確実に検知するため、R&S RTEは製品開発時のEMIデバッギングに理想的である。

10.4インチの高解像度XGAタッチスクリーンを使用しているため、ユーザーは日々の試験・計測作業を直感的に行うことができる。例えば、ユーザーはスクリーンをスワイプするだけで保存されている機器設定を呼び出すことができる。さらに波形は「ドラッグアンドドロップ」するだけで画面上に並べ替えることができる。

詳しい情報はウェブサイト（http://www.scope-of-the-art.com/ad/press/rte）を参照。

▽プレス問い合わせ先

Christian Mokry,

Phone: +49(89)4129-13052,

E-mail: press@rohde-schwarz.com

ソース：Rohde & Schwarz

The New R&S RTE Oscilloscopes from Rohde & Schwarz: Ease of Use Combined with Powerful Analysis Tools

PR55983

MUNICH, Feb. 26, 2014 /PRN=KYODO JBN/ --

    R&S RTE digital oscilloscopes offer fast and reliable solutions for

everyday T&M tasks such as embedded design development, power electronics

analysis and general debugging. Users benefit from features such as high

sampling and acquisition rates and good signal fidelity. A comprehensive set of

measurement and analysis tools deliver fast results and the high-resolution

touchscreen makes the R&S RTE very easy to use.

    The new R&S RTE from Rohde & Schwarz is available with bandwidths from 200

MHz to 1 GHz. An acquisition rate of more than one million waveforms per second

helps users find signal faults quickly. The scope's highly accurate digital

trigger system with virtually no trigger jitter delivers highly precise

results. The single-core A/D converter with more than seven effective bits

(ENOB) almost completely eliminates signal distortion. With a sampling rate of

5 Gsample per second and a maximum memory depth of 50 Msample per channel, the

R&S RTE can accurately record the long signal sequences required when analyzing

the data content of serial protocols such as I2C and CAN.

    Users performing complex tasks will especially appreciate the high

measurement speed of the R&S RTE. Mask tests, for example, quickly return

statistically conclusive results. The highly responsive, spectrum-analyzer-like

FFT reliably detects even sporadic signals, making the R&S RTE ideal for EMI

debugging during product development.

    Thanks to the high-resolution 10.4" XGA touchscreen, users can intuitively

perform their daily T&M tasks. For instance, they only have to swipe the screen

to access saved instrument setups. And they can simply "drag & drop" waveforms

to arrange them on the screen.

    For more information, visit http://www.scope-of-the-art.com/ad/press/rte.

    Press contacts:

    Christian Mokry,

    Phone: +49(89)4129-13052,

    E-mail: press@rohde-schwarz.com

    SOURCE: Rohde & Schwarz